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產(chǎn)品(pǐn)分類
Cassification
產(chǎn)品(pǐn)展示/ Product display
超(chāo)高亮度照明裝置表(biǎo)麵(miàn)檢查燈(dēng)UIH-3D 對對(duì)象物(wù)(※1)照射(shè)高亮度(dù)的(dí)光(guāng)的(dí)話會(huì)發(fā)生(shēng)振打(dǎ)現象(xiàng),表(biǎo)麵的傷和垃(lā)圾(jī),內部的(dí)異物和氣泡用目視能容易地(dì)確(què)認。 ※1:半(bàn)導(dǎo)體晶(jīng)片(piàn),掩(yǎn)模玻璃,硬盤,液晶麵板(bǎn),鏡頭等(děng)!
2025-11-05
經銷商
1265
超高(gāo)亮(liàng)度(dù)照明(míng)裝置(zhì)表麵檢查(chá)燈UIH-2D 對(duì)對象(xiàng)物(※1)照(zhào)射(shè)高亮(liàng)度(dù)的(dí)光的(dí)話會發生振打現象(xiàng),表(biǎo)麵(miàn)的傷和垃圾,內(nèi)部的(dí)異(yì)物和(hé)氣(qì)泡(pào)用目視(shì)能(néng)容易(yì)地(dì)確認。 ※1:半(bàn)導體晶片,掩(yǎn)模(mó)玻(bō)璃,硬盤(pán),液晶(jīng)麵(miàn)板(bǎn),鏡頭(tóu)等!
2025-11-05
經銷商(shāng)
1147
垃圾(jī)坑點(diǎn)火(huǒ)監控(kòng)裝置日本表麵(miàn)檢(jiǎn)查(chá)燈 UIH-1C 對對(duì)象物(※1)照(zhào)射(shè)高(gāo)亮(liàng)度的(dí)光的(dí)話會發(fā)生振打(dǎ)現象,表麵的傷(shāng)和垃(lā)圾,內部的異物(wù)和氣(qì)泡(pào)用目(mù)視能容(róng)易(yì)地確認。 ※1:半導體晶片(piàn),掩模玻璃,硬盤,液晶麵(miàn)板,鏡(jìng)頭等(děng)!
2025-11-05
經銷商
1217
產(chǎn)品(pǐn)簡(jiǎn)介(jiè) 1. LED冷光源(yuán),不會(huì)在照射表麵產(chǎn)生(shēng)高(gāo)溫(wēn)。 2. 20000小時長(cháng)壽(shòu)命(mìng)。 氮化镓(jiā) 矽片小(xiǎo)王子(zǐ) 強(qiáng)光燈(dēng) 日本(běn)表麵 檢測燈(dēng)
2025-11-02
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1298
產(chǎn)品(pǐn)簡介 1. LED冷光源,不會在照射表(biǎo)麵產(chǎn)生高(gāo)溫。 2. 20000小時長壽(shòu)命(mìng)。 日本(běn)表(biǎo)麵檢(jiǎn)測燈 小(xiǎo)王子(zǐ) 多(duō)晶(jīng)矽 矽(guī)片(piàn) 強光燈
2025-11-02
經(jīng)銷商
1345
產品(pǐn)簡(jiǎn)介 1. LED冷光源(yuán),不會在(zài)照(zhào)射表麵產生高溫。 2. 20000小時(shí)長壽(shòu)命。 日(rì)本(běn)表麵檢測燈(dēng) 小(xiǎo)王(wáng)子 晶圓(yuán) 目視 強光燈(dēng)
2025-11-02
經(jīng)銷商(shāng)
1502
光學係統結構(gòu)和計(jì)算方法(fǎ),能(néng)夠獲得高度(dù)綫性(xìng)的(dí)測量(liáng)結(jié)果(guǒ),而(ér)不(bù)受色(sè)彩的影響。 ■散(sàn)射光直(zhí)接(jiē)檢測(cè)方(fāng)式(shì) 15°前向(xiàng)散(sàn)射光直接(jiē)檢(jiǎn)測方(fāng)式,減(jiǎn)少(shǎo)了樣品粒徑測(cè)量值(zhí)的(dí)影響(xiǎng)。 日本表麵檢(jiǎn)查燈(dēng)小王子(zǐ)紅外(wài)綫近(jìn)紅(hóng)外鹵素光(guāng)源(yuán)
2025-11-01
經銷(xiāo)商
1253
光學係(xì)統(tǒng)結(jié)構和計算方法,能(néng)夠獲得(dé)高(gāo)度綫(xiàn)性的(dí)測(cè)量(liáng)結果,而不受色(sè)彩(cǎi)的(dí)影響(xiǎng)。 ■散(sàn)射(shè)光直(zhí)接檢測方式 15°前向散射(shè)光直接(jiē)檢測方式(shì),減(jiǎn)少了(liǎo)樣(yàng)品(pǐn)粒徑(jìng)測量值(zhí)的(dí)影(yǐng)響(xiǎng)。 日本(běn)表(biǎo)麵(miàn)檢查燈小(xiǎo)王子(zǐ)矽(guī)晶片光源檢測
2025-11-01
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