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產(chǎn)品(pǐn)分類
Cassification
產(chǎn)品(pǐn)展示/ Product display
超高亮度(dù)照(zhào)明(míng)裝(zhuāng)置表(biǎo)麵(miàn)檢(jiǎn)查燈(dēng)UIH-3D 對(duì)對象物(※1)照(zhào)射(shè)高亮度(dù)的光的話(huà)會(huì)發(fā)生振(zhèn)打(dǎ)現(xiàn)象,表(biǎo)麵(miàn)的傷(shāng)和(hé)垃圾(jī),內(nèi)部的異物(wù)和氣泡用(yòng)目視(shì)能容(róng)易地(dì)確認(rèn)。 ※1:半導(dǎo)體晶片(piàn),掩(yǎn)模(mó)玻(bō)璃(lí),硬盤(pán),液晶麵(miàn)板(bǎn),鏡(jìng)頭等(děng)!
2025-11-05
經銷商(shāng)
1260
超高(gāo)亮度(dù)照(zhào)明裝(zhuāng)置表麵(miàn)檢(jiǎn)查燈(dēng)UIH-2D 對對(duì)象(xiàng)物(wù)(※1)照(zhào)射(shè)高(gāo)亮度(dù)的(dí)光(guāng)的話(huà)會發生(shēng)振(zhèn)打(dǎ)現(xiàn)象,表麵的傷和(hé)垃圾,內(nèi)部的異(yì)物(wù)和氣泡(pào)用(yòng)目視(shì)能(néng)容易(yì)地確認(rèn)。 ※1:半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)晶片(piàn),掩(yǎn)模玻璃(lí),硬盤,液(yè)晶麵板,鏡(jìng)頭等!
2025-11-05
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1142
垃圾坑點(diǎn)火(huǒ)監(jiān)控裝置日(rì)本(běn)表(biǎo)麵檢(jiǎn)查燈(dēng) UIH-1C 對(duì)對(duì)象(xiàng)物(wù)(※1)照射(shè)高亮度(dù)的(dí)光的(dí)話(huà)會發(fā)生振打(dǎ)現(xiàn)象(xiàng),表麵的傷(shāng)和垃圾,內部的異物(wù)和(hé)氣泡(pào)用目(mù)視能(néng)容易(yì)地確認。 ※1:半(bàn)導體(tǐ)晶(jīng)片,掩(yǎn)模玻璃,硬(yìng)盤(pán),液晶(jīng)麵(miàn)板,鏡頭(tóu)等(děng)!
2025-11-05
經銷商
1210
產品(pǐn)簡(jiǎn)介 1. LED冷(lěng)光源(yuán),不會在(zài)照射表麵(miàn)產(chǎn)生(shēng)高(gāo)溫(wēn)。 2. 20000小時長(cháng)壽命(mìng)。 氮化镓(jiā) 矽片小(xiǎo)王子 強光燈 日(rì)本表(biǎo)麵 檢測燈
2025-11-02
經(jīng)銷(xiāo)商
1295
產(chǎn)品簡介 1. LED冷光源,不(bù)會(huì)在(zài)照(zhào)射表(biǎo)麵產生(shēng)高(gāo)溫。 2. 20000小時(shí)長壽(shòu)命。 日本(běn)表(biǎo)麵檢測燈 小王(wáng)子(zǐ) 多(duō)晶矽(guī) 矽片(piàn) 強光燈
2025-11-02
經(jīng)銷商(shāng)
1341
產品簡介 1. LED冷光源,不(bù)會(huì)在(zài)照射表(biǎo)麵產生(shēng)高溫(wēn)。 2. 20000小(xiǎo)時(shí)長壽(shòu)命(mìng)。 日(rì)本表(biǎo)麵檢(jiǎn)測(cè)燈(dēng) 小(xiǎo)王(wáng)子(zǐ) 晶(jīng)圓 目視 強光(guāng)燈
2025-11-02
經銷商
1498
光學(xué)係統(tǒng)結(jié)構(gòu)和計算方(fāng)法(fǎ),能(néng)夠獲得高(gāo)度(dù)綫性的(dí)測(cè)量結果,而(ér)不受色彩的(dí)影響。 ■散射光直(zhí)接檢測方式(shì) 15°前向散射光直接檢(jiǎn)測(cè)方(fāng)式(shì),減少(shǎo)了(liǎo)樣品粒徑(jìng)測量值(zhí)的影響(xiǎng)。 日本(běn)表麵(miàn)檢查(chá)燈小王子紅(hóng)外綫(xiàn)近紅外(wài)鹵素光源(yuán)
2025-11-01
經銷(xiāo)商
1250
光(guāng)學(xué)係統結構和(hé)計(jì)算方法,能(néng)夠(gòu)獲得高度綫性的測量(liáng)結果,而不(bù)受(shòu)色(sè)彩(cǎi)的影響。 ■散射(shè)光直(zhí)接檢測方式 15°前(qián)向散射(shè)光直(zhí)接(jiē)檢測方式,減(jiǎn)少了樣(yàng)品粒徑測量值的(dí)影響(xiǎng)。 日本表(biǎo)麵(miàn)檢查燈小王(wáng)子(zǐ)矽晶片光源檢測(cè)
2025-11-01
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