晶圓表麵檢查燈(dēng)YP-250I

更(gēng)新時間：2024-08-06

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晶圓(yuán)表麵檢(jiǎn)查燈YP-250I

表麵檢查燈可(kě)快速(sù)檢查(chá)加(jiā)工(gōng)表(biǎo)麵的(dí)瑕(xiá)疵，灰塵(chén)，異物(wù)等(děng)小至10微米的瑕(xiá)疵(cī)，小(xiǎo)顆粒(lì)，高強(qiáng)度抗(kàng)衝擊(jī)外(wài)殼(ké)由有Cool-Touch阻(zǔ)熱材料製造，可(kě)長(cháng)時(shí)間(jiān)工作(zuò)不產生(shēng)高溫。黃色濾光片(piàn)能濾掉波長小(xiǎo)於500nm的(dí)光綫(xiàn)，產(chǎn)生543nm，574和576nm的光綫。高(gāo)對(duì)比度(dù)的(dí)光綫(xiàn)可(kě)檢測表(biǎo)麵小於(yú)10微(wēi)米(mǐ)的(dí)顆粒。b-100Y鋁(lǚ)合金外殼(ké)，B-100YP帶塑料外(wài)殼。表(biǎo)麵晶粒(lì)檢(jiǎn)查燈(dēng)主(zhǔ)要用(yòng)於LCD濾光片(piàn)，偏光板，晶圓，半(bàn)導體(tǐ)，玻(bō)璃或金屬(shǔ)表(biǎo)麵刮痕及灰塵檢(jiǎn)查。

• 檢查(chá)精密加工(gōng)表麵(miàn)的瑕疵(cī)，汙(wū)點，異(yì)物等

• 快速無(wú)損(sǔn)檢測小至10微(wēi)米(mǐ)的瑕疵(cī)，小(xiǎo)顆粒

• 有效(xiào)地(dì)探(tàn)測出(chū)生(shēng)產過程(chéng)是(shì)早期的汙物(wù)，節(jié)省(shěng)生(shēng)產(chǎn)時間及(jí)不(bù)必要(yào)的(dí)成本

• 100瓦高(gāo)強(qiáng)度汞燈發(fā)出543,574及576nm波長光(guāng)譜(pǔ)

• 黃色濾(lǜ)色片(piàn)濾掉波(bō)長(cháng)小於500nm的(dí)光(guāng)綫，防止(zhǐ)產生熒光幹擾(rǎo)

• 高(gāo)對(duì)比(bǐ)度的光綫(xiàn)能清(qīng)晰檢(jiǎn)測(cè)到(dào)精(jīng)細的表(biǎo)麵粒子

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