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可(kě)檢(jiǎn)測各(gè)種缺陷如(rú)半導體(tǐ)晶(jīng)片芯片(piàn)和液晶基(jī)板的劃(huá)痕(hén)，不均匀拋光(guāng)，霧(wù)度，表(biǎo)麵(miàn)灰塵，滑移等(děng)可照明(míng)樣(yàng)品(pǐn)表麵(miàn)範圍為400,000Lux以(yǐ)上 是(shì)一(yī)種(zhǒng)用於宏觀觀(guān)察的照明(míng)裝(zhuāng)置(zhì) 高亮度鹵素射鏡(jìng) 光(guāng)學(xué)板(bǎn)光源(yuán)YAMADA粒子光(guāng)源(yuán)YP-250ID裝置(zhì)現貨(huò)
2025-11-05
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1067
可檢測各種缺(quē)陷如(rú)半(bàn)導體晶片(piàn)芯(xīn)片(piàn)和(hé)液晶(jīng)基板(bǎn)的(dí)劃痕(hén)，不(bù)均匀拋(pāo)光，霧度(dù)，表(biǎo)麵(miàn)灰(huī)塵，滑(huá)移(yí)等(děng)可(kě)照明樣品表(biǎo)麵(miàn)範圍為400,000Lux以(yǐ)上 是(shì)一種用於宏觀(guān)觀(guān)察的(dí)照明裝置 高亮度(dù)鹵(lǔ)素(sù)射鏡(jìng) YP-150I/YP-250ID雙(shuāng)光(guāng)源(yuán)裝(zhuāng)置(zhì)YAMADA山田
2025-11-05
經銷商
1057
可檢測各種缺(quē)陷(xiàn)如(rú)半導體晶片(piàn)芯片和(hé)液(yè)晶(jīng)基板的(dí)劃痕(hén)，不均匀拋光(guāng)，霧度(dù)，表麵灰塵，滑移(yí)等可(kě)照(zhào)明樣(yàng)品表(biǎo)麵範圍為(wéi)400,000Lux以上(shàng) 是一(yī)種用於(yú)宏觀(guān)觀(guān)察(chá)的照明(míng)裝(zhuāng)置 高(gāo)亮度(dù)鹵素射(shè)鏡 YAMADA高亮(liàng)度熒(yíng)光(guāng)光(guāng)源(yuán)YP-150ID · YP-250ID
2025-11-05
經銷(xiāo)商
921
可檢測(cè)各種(zhǒng)缺陷如半導體(tǐ)晶片芯片和液晶基(jī)板(bǎn)的劃(huá)痕，不(bù)均(jūn)匀(yún)拋(pāo)光(guāng)，霧度(dù)，表(biǎo)麵(miàn)灰塵，滑移(yí)等可照(zhào)明樣(yàng)品(pǐn)表麵範(fàn)圍為400,000Lux以(yǐ)上(shàng) 是(shì)一種(zhǒng)用於(yú)宏觀觀(guān)察的照(zhào)明(míng)裝置 高(gāo)亮度(dù)鹵(lǔ)素(sù)射(shè)鏡 YAMADA山(shān)田高(gāo)亮(liàng)度(dù)鐵光(guāng)源裝置(zhì)YP-150ID現(xiàn)貨(huò)
2025-11-05
經(jīng)銷(xiāo)商
883
可(kě)檢(jiǎn)測(cè)各(gè)種缺陷(xiàn)如半(bàn)導(dǎo)體晶片(piàn)芯(xīn)片(piàn)和液(yè)晶基(jī)板的劃(huá)痕(hén)，不均匀(yún)拋(pāo)光，霧度，表(biǎo)麵灰塵，滑移等可(kě)照(zhào)明樣(yàng)品表麵範圍為(wéi)400,000Lux以上(shàng) 是(shì)一種用(yòng)於宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高(gāo)亮度(dù)鹵素(sù)射(shè)鏡(jìng) YAMADA山田高亮度(dù)鐵光源(yuán)裝置YP-150ID現(xiàn)貨
2025-11-05
經銷(xiāo)商(shāng)
1058
可檢測各種(zhǒng)缺陷(xiàn)如(rú)半導(dǎo)體晶片(piàn)芯片(piàn)和液(yè)晶(jīng)基板的劃痕，不均匀拋光，霧度(dù)，表(biǎo)麵灰(huī)塵，滑移等可(kě)照(zhào)明(míng)樣(yàng)品表(biǎo)麵範(fàn)圍為400,000Lux以上 是一(yī)種用於宏觀觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射(shè)鏡(jìng) YP-150ID/YP-250ID現(xiàn)貨(huò)YAMADA山(shān)田粒子(zǐ)光(guāng)源
2025-11-05
經(jīng)銷(xiāo)商(shāng)
951
可檢測(cè)各種缺(quē)陷(xiàn)如(rú)半(bàn)導體晶片(piàn)芯片(piàn)和液(yè)晶(jīng)基(jī)板的劃(huá)痕(hén)，不(bù)均(jūn)匀拋光，霧度，表(biǎo)麵(miàn)灰塵(chén)，滑移等(děng)可(kě)照(zhào)明樣品表(biǎo)麵(miàn)範圍為(wéi)400,000Lux以上 是一(yī)種用於(yú)宏(hóng)觀(guān)觀察的照(zhào)明裝置 高亮(liàng)度鹵素射(shè)鏡(jìng) YP-250ID高亮(liàng)度(dù)YAMADA山田粒(lì)子(zǐ)光源裝置(zhì)現貨
2025-11-05
經(jīng)銷商
1029
可檢測(cè)各種缺(quē)陷(xiàn)如半導體晶(jīng)片(piàn)芯片和液(yè)晶基板的(dí)劃痕，不(bù)均匀(yún)拋(pāo)光(guāng)，霧度(dù)，表(biǎo)麵灰(huī)塵，滑移(yí)等可照明(míng)樣品(pǐn)表麵範圍為400,000Lux以(yǐ)上 是一種(zhǒng)用於宏觀觀(guān)察(chá)的(dí)照(zhào)明裝置 高(gāo)亮度鹵(lǔ)素(sù)射鏡(jìng) YP-150ID YAMADA山(shān)田(tián)光學高(gāo)亮(liàng)度電(diàn)子鏡(jìng)200V
2025-11-05
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