>
歡(huān)迎(yíng)來(lái)到(dào)深(shēn)圳市(shì)京(jīng)都(dū)玉崎(qí)電子有限(xiàn)公(gōng)司!
服(fú)務(wù)熱綫: 
產品(pǐn)分類
Cassification
技(jì)術(shù)文(wén)章/ Technical Articles
更(gēng)新(xīn)時間(jiān):2026-07-23
瀏覽(lǎn)次數:32產品和零(líng)部件的目視(shì)檢(jiǎn)查通常(cháng)由(yóu)工人通過目(mù)視(shì)檢查(chá)來(lái)進行。
檢(jiǎn)查的(dí)角(jiǎo)度(dù)包括(kuò)是否(fǒu)存(cún)在與普通(tōng)產(chǎn)品(pǐn)或(huò)部件(jiàn)的形狀或(huò)顏色差(chà)異,是(shì)否有劃痕或凹(āo)陷,以(yǐ)及是(shì)否(fǒu)摻有異物。
這類工(gōng)作不(bù)僅需要技能(néng)和(hé)經(jīng)驗,還(huán)需要持續(xù)的專(zhuān)注。 如果分心(xīn),可能會忽略某些東(dōng)西(xī),導致(zhì)產(chǎn)品(pǐn)出貨(huò),從而(ér)引發用戶(hù)投訴(sù)。
為避免此(cǐ)類(lèi)情況,目視檢查軟件(jiàn)利用(yòng)圖(tú)像(xiàng)識別(bié)和(hé)比對技術(shù)將正常產(chǎn)品和組件(jiàn)存(cún)儲在(zài)計算(suàn)機(jī)上(shàng),自動(dòng)將(jiāng)被檢(jiǎn)驗的物品(pǐn)作為參(cān)考,並區(qū)分(fēn)優質(zhì)與(yǔ)缺(quē)陷產品。
目(mù)視(shì)檢查(chá)軟件的應(yīng)用領域(yù)極為多樣(yàng)。
它用於檢查金屬(shǔ)表(biǎo)麵(miàn),木(mù)紋,樹(shù)脂製品(pǐn)上的(dí)劃痕和(hé)汙垢(gòu),食品(pǐn)的(dí)外(wài)觀和(hé)汙垢,以及異物(wù)汙染(rǎn)情況。
它(tā)還用(yòng)於檢查產(chǎn)品印(yìn)刷痕跡中的(dí)錯位(wèi),缺(quē)口,汙(wū)垢(gòu)及其(qí)他問題。
此外(wài),還有(yǒu)目(mù)視檢測(cè)軟(ruǎn)件(jiàn),可以檢(jiǎn)測(cè)隱形眼鏡芯片(piàn),CD/DVD表(biǎo)麵劃(huá)痕,元件(jiàn)安裝狀態和印刷(shuā)電(diàn)路(lù)板上的焊接(jiē)缺(quē)陷,並(bìng)檢(jiǎn)測(cè)半導體上(shàng)的異物汙(wū)染或(huò)劃(huá)痕(hén)。
目視(shì)檢查(chá)軟件的基(jī)本結構(gòu)如下。
我(wǒ)們會拍攝優(yōu)質(zhì)產品的照(zhào)片,以(yǐ)便(biàn)與(yǔ)相機(jī)進行對(duì)比。 特征(zhēng)從(cóng)捕獲(huò)的(dí)圖像(xiàng)數據中提取(qǔ)並(bìng)存(cún)儲在計(jì)算機(jī)上。
接(jiē)著,采集(jí)目(mù)標(biāo)對象的(dí)圖像數(shù)據(jù),並(bìng)以相同方式進行特征提取。 因此(cǐ),基於兩(liǎng)者數據的(dí)相似性(xìng),會做(zuò)出判斷(duàn),以判斷(duàn)產(chǎn)品(pǐn)是優(yōu)質(zhì)還(huán)是(shì)有缺(quē)陷。
最近(jìn),配(pèi)備(bèi)了AI功能(néng)的(dí)係統(tǒng)陸(lù)續(xù)發布(bù),使判斷比這些(xiē)基(jī)礎(chǔ)的(dí)目視檢(jiǎn)查(chá)軟件(jiàn)更加準確。
該過(guò)程涉及(jí)用相(xiāng)機捕捉(zhuō)參考(kǎo)圖像,但(dàn)在(zài)此(cǐ)情況(kuàng)下,會(huì)捕捉許多高(gāo)質量圖像,並提取(qǔ)這些(xiē)優質(zhì)圖(tú)像的(dí)特征(zhēng)。 這(zhè)些(xiē)數據(jù)作(zuò)為參考圖像(xiàng)數據(jù),並在係統(tǒng)內進(jìn)行測試。
我(wǒ)們(mén)會判斷產(chǎn)品(pǐn)是(shì)好(hǎo)還是有缺(quē)陷(xiàn),以便多件(jiàn)物品進行(háng)檢查。 通(tōng)過(guò)讓(ràng)係統判(pàn)斷判(pàn)斷結果(guǒ)是否(fǒu)有效,然(rán)後修(xiū)訂(dìng)特征提取(qǔ)數據並(bìng)多(duō)次重(zhòng)復(fù)測試,可(kě)以提高(gāo)缺(quē)陷(xiàn)產品的(dí)檢測率。

P
PRODUCTSN
NEWSA
ABOUT USC
CODE

聯(lián)係(xì)郵箱:[email protected]

公司地(dì)址(zhǐ):深圳市龍華(huá)區(qū)龍(lóng)華(huá)街(jiē)道(dào)鬆和(hé)社區梅龍(lóng)大道906號電(diàn)商大(dà)廈3層
Copyright © 2026 深圳市(shì)京(jīng)都玉崎(qí)電子有限(xiàn)公(gōng)司版權所有(yǒu) 技術(shù)支持(chí):