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您(nín)的位置(zhì)：首(shǒu)頁(yè) / 新聞中心(xīn) / 現貨！濱(bīn)鬆(sōng)光子(zǐ)正(zhèng)式發(fā)布(bù)WS係列微型光譜儀(yí)上(shàng)新(xīn) 
更新時間(jiān)：2026-07-22 
瀏覽(lǎn)次數：41光電(diàn)子(zǐ)領(lǐng)域(yù)專(zhuān)業製造(zào)商濱鬆光(guāng)子(zǐ)學株(zhū)式(shì)會社（Hamamatsu Photonics）正式(shì)推出WS係列微型(xíng)光譜(pǔ)儀(yí)。作(zuò)為濱(bīn)鬆光(guāng)譜儀產品綫中(zhōng)的全新(xīn)係(xì)列，WS係列(liè)依(yī)托反(fǎn)射(shè)光柵(zhà)光學係(xì)統與高靈(líng)敏(mǐn)度CMOS圖(tú)像傳感器(qì)兩(liǎng)大核心技術，以(yǐ)80×75×25mm輕量化(huà)外(wài)殼(ké)，190～1100nm寬光譜覆蓋(gài)（C16449MA-01），1.0nm光(guāng)譜分辨(biàn)率(shuài)等綜合性(xìng)能，成為(wéi)麵向膜(mó)厚(hòu)測定，LIBS分析，顏色測定及(jí)氣(qì)體(tǐ)分(fēn)析(xī)等(děng)對小(xiǎo)型化與高(gāo)性能光譜檢(jiǎn)測有要求的應(yīng)用場景的(dí)可(kě)靠(kào)選(xuǎn)擇。該產品(pǐn)目前深圳(zhèn)倉庫(kù)有(yǒu)現(xiàn)貨(huò)供應，可滿足客戶的(dí)快(kuài)速(sù)交付需求(qiú)。
反(fǎn)射(shè)光柵(zhà)光(guāng)學係統(tǒng)，實現(xiàn)小(xiǎo)型化與(yǔ)高性能兼顧(gù)
WS係列(liè)微(wēi)型光譜(pǔ)儀的核心(xīn)技術(shù)特征在(zài)於(yú)反(fǎn)射光(guāng)柵光學(xué)係統設(shè)計。與傳統透(tòu)射(shè)光(guāng)柵光(guāng)譜(pǔ)儀相比，反射光柵(zhà)在(zài)小型化(huà)封裝中實(shí)現(xiàn)了更高的(dí)光通量(liáng)和更寬的光譜(pǔ)覆蓋範(fàn)圍(wéi)。光(guāng)柵設計(jì)允(yǔn)許(xǔ)根據客(kè)戶要(yào)求定製波長範(fàn)圍(wéi)和分(fēn)辨(biàn)率，支持針(zhēn)對具(jù)體用(yòng)途的優化(huà)。
兩種(zhǒng)型號，覆(fù)蓋寬光譜(pǔ)與高(gāo)分辨(biàn)率需求(qiú)
WS係列(liè)提(tí)供兩種型號，分別針對(duì)寬光譜覆(fù)蓋(gài)和高分(fēn)辨(biàn)率分析(xī)優(yōu)化：
| 型號 | 光(guāng)譜(pǔ)響應範圍(wéi) | 光(guāng)譜分辨(biàn)率(shuài)（典型(xíng)值(zhí)） | 尺寸 |
|---|---|---|---|
| C16449MA-01 | 190～1100nm | 1.0nm | 80×75×25mm |
| C16449MA-02 | 200～600nm | 0.45nm | 80×75×25mm |
C16449MA-01覆蓋從(cóng)紫(zǐ)外(wài)至近紅外的寬(kuān)光譜(pǔ)範圍，適用(yòng)於(yú)材(cái)料分析(xī)，質量(liáng)控製(zhì)和科(kē)學調查(chá)研究等(děng)多(duō)個行業。C16449MA-02針對高光譜分辨(biàn)率優化，特別(bié)適合(hé)LIBS（激光(guāng)誘導擊穿光(guāng)譜(pǔ)）分析和其(qí)他對(duì)光譜細節(jié)要求較高的高級(jí)分(fēn)析(xī)用(yòng)途。
高靈敏度(dù)CMOS傳感(gǎn)器與(yǔ)USB總(zǒng)綫(xiàn)供電
WS係列集成高靈(líng)敏(mǐn)度(dù)CMOS圖(tú)像(xiàng)傳感(gǎn)器，性(xìng)能(néng)相當(dāng)於CCD，在小型(xíng)化(huà)封(fēng)裝(zhuāng)中(zhōng)實現了高信(xìn)噪(zào)比(bǐ)。器件配備觸(chù)發(fā)器和(hé)電子(zǐ)快(kuài)門功能，支持外部(bù)觸(chù)發同(tóng)步(bù)采集(jí)。采用(yòng)USB總綫供(gōng)電，無需(xū)外部電(diàn)源，即(jí)插(chā)即用(yòng)。
典(diǎn)型(xíng)應用(yòng)場(cháng)景
WS係(xì)列廣(guǎng)泛(fàn)應用於光(guāng)譜分析(xī)與工業檢測(cè)領(lǐng)域：在塗(tú)層和薄膜的(dí)膜厚測定(dìng)中(zhōng)用於(yú)監測(cè)薄膜和塗層質量；在(zài)LIBS分(fēn)析中C16449MA-02的(dí)高分辨率支持(chí)詳(xiáng)細的材(cái)料(liào)表(biǎo)征(zhēng)；在(zài)顏色(sè)測定中用於(yú)製(zhì)造和(hé)研發過程中(zhōng)的色(sè)調測量(liáng)；在環境監(jiān)測(cè)和氣體(tǐ)分析中(zhōng)用於高精度(dù)檢(jiǎn)測和(hé)表征氣(qì)體。
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