晶(jīng)圓片表麵(miàn)檢(jiǎn)測燈(dēng)

更新時(shí)間：2024-03-20

瀏(liú)覽(lǎn)次數(shù)：1729

晶圓(yuán)片(piàn)表麵檢測(cè)燈(dēng)半導體(tǐ)表(biǎo)麵瑕疵(cī)檢查(chá)燈(dēng) 表(biǎo)麵檢查(chá)燈廠(chǎng)家(jiā) 黃綠(lǜ)光/白光檢查燈

wafer晶(jīng)圓(yuán)顆粒缺陷檢查燈(dēng)185LE-AL係(xì)列是(shì)一款黃綠光(guāng)表麵檢(jiǎn)查(chá)燈(dēng)（或者是白(bái)光），又(yòu)叫(jiào)半導(dǎo)體(tǐ)目檢(jiǎn)燈，檢測(cè)燈(dēng)的(dí)原理(lǐ)利用(yòng)適(shì)合的(dí)LED燈源，通過光學鏡(jìng)片(piàn)折射(shè)出特(tè)殊(shū)波長(cháng)的光源(yuán)，照在工件表(biǎo)麵折(zhē)射(shè)出(chū)光路，使(shǐ)得操作員(yuán)肉(ròu)眼(yǎn)可識別(bié)出工(gōng)件(jiàn)表麵(miàn)的灰塵(chén)，刮痕(hén)，毛刺(cì)，凹凸，油(yóu)墨等瑕疵點，取代(dài)傳(chuán)統的照(zhào)明設(shè)備和(hé)光學(xué)係統機台(tái)，直(zhí)接通過照(zhào)明光綫和肉眼(yǎn)，觀(guān)測(cè)出一(yī)般(bān)玻璃表麵，部(bù)件表麵的瑕疵(cī)，極大(dà)的(dí)節(jié)省(shěng)了一(yī)般工廠(chǎng)的采購成本。 PS-PH40，YP-250I表麵檢查燈(dēng)采(cǎi)用(yòng)人眼(yǎn)敏(mǐn)感510-590NM之間(jiān)波(bō)長光(guāng)，來(lái)做簡單(dān)與明確的(dí)判別(bié)，可檢查(chá)到1um以下的刮痕或(huò)微粒(lì)子，並且(qiě)具有(yǒu)綠光和(hé)黃光2種顏(yán)色(sè)的(dí)復合光(guāng)，幾乎(hū)可(kě)檢(jiǎn)測出塵埃，大大降(jiàng)低產(chǎn)品不良(liáng)率。使用壽(shòu)命(mìng)為(wéi)2萬(wàn)小(xiǎo)時(shí)以(yǐ)上。光(guāng)源(yuán)強(qiáng)度(dù)可達30萬LX，可(kě)以檢(jiǎn)測1μ的(dí)表(biǎo)麵(miàn)髒汙，比(bǐ)傳統的(dí)表麵檢查燈，效用增(zēng)強10倍(bèi)PSVLX1-F5016半導(dǎo)體目檢燈可根(gēn)據使用場(cháng)景，使用(yòng)便攜手持(chí)式或桌(zhuō)麵式（上(shàng)在底(dǐ)座上即(jí)可(kě)）。

由於沒有閃(shǎn)爍並且(qiě)沒有(yǒu)眼(yǎn)睛疲(pí)勞(láo)，所以電子照(zhào)明(míng)方(fāng)法(fǎ)提(tí)高(gāo)了可加工性(xìng)。可以(yǐ)自(zì)由(yóu)地(dì)進(jìn)行調(tiáo)光，並(bìng)可以選擇佳條(tiáo)件(jiàn)。通(tōng)過(guò)采用柔(róu)性臂(bì)，可以自由調(tiáo)節光源(yuán)的(dí)角度。可(kě)以在(zài)無(wú)塵(chén)室中使(shǐ)用。可以(yǐ)使(shǐ)用安(ān)裝(zhuāng)支架分(fēn)離(lí)光源。連續(xù)照(zhào)明(míng)時(shí)，燈(dēng)泡壽命為10,000小時。它可(kě)以切(qiē)割(gē)500 nm或(huò)更(gēng)短(duǎn)的波(bō)長，並且該波長不(bù)會給(gěi)人(rén)眼(yǎn)造成負擔(dān)，因(yīn)此使(shǐ)其(qí)成(chéng)為視覺(jué)檢查光源的(dí)佳(jiā)波長(cháng)。

半導體(tǐ)晶片(piàn)不管是自(zì)主(zhǔ)加工生產還是(shì)外(wài)購，都(dū)要(yào)對其外表(biǎo)進(jìn)行缺(quē)陷(xiàn)瑕疵(cī)檢(jiǎn)查，避(bì)免瑕(xiá)疵品在投(tóu)入使(shǐ)用，從(cóng)而(ér)導致成(chéng)品(pǐn)成(chéng)為(wéi)不(bù)合(hé)格(gé)產(chǎn)品(pǐn)。上(shàng)海峰(fēng)誌儀器有限公(gōng)司用於半導(dǎo)體晶(jīng)片表麵(miàn)缺陷(xiàn)瑕(xiá)疵檢查燈(dēng)以(yǐ)及測(cè)試係統(tǒng)主(zhǔ)要技術指標(biāo)如下(xià)：
1，測(cè)試精度：可檢(jiǎn)測出(chū)1um以下的(dí)缺(quē)陷瑕(xiá)疵
2，光(guāng)源：人眼易於察覺的綠光和黃(huáng)光2種顏色的復合(hé)光
3，檢(jiǎn)查係統帶(dài)工業(yè)相機(jī)，可拍攝瑕疵(cī)點(diǎn)
4，樣式靈(líng)活，可(kě)手持式和(hé)桌麵(miàn)放(fàng)置(zhì)解放(fàng)雙手(shǒu)
5，可調(tiáo)節燈光照射範圍

上(shàng)一篇：半導體(tǐ)晶(jīng)圓片缺(quē)陷檢測燈應(yīng)用
下一篇(piān)：分享(xiǎng)精密(mì)天(tiān)平(píng)FX係(xì)列(liè)出(chū)現故障時(shí)怎(zěn)麼處(chǔ)理?