產(chǎn)品分(fēn)類

Cassification

技(jì)術文(wén)章(zhāng)/ Technical Articles

您(nín)的位(wèi)置(zhì)：首(shǒu)頁 / 技術文章 / 半導體(tǐ)晶圓片(piàn)缺(quē)陷(xiàn)檢(jiǎn)測燈(dēng)應(yīng)用

半(bàn)導體晶圓片缺陷檢(jiǎn)測(cè)燈應(yīng)用(yòng)

更新(xīn)時間：2024-03-21

瀏(liú)覽(lǎn)次(cì)數：1138

LCD濾光(guāng)片，偏光板。
晶圓，半導(dǎo)體。
玻璃(lí)或是(shì)金屬表麵(miàn)。
上列物(wù)品的刮痕及灰塵檢查。

晶圓片(piàn)表(biǎo)麵檢測燈(dēng)特點

特(tè)殊(shū)波長，主波長為(wéi)546，578nm知(zhī)黃(huáng)綠(lǜ)光且不(bù)傷人(rén)眼。
藉(jiè)由(yóu)人(rén)眼(yǎn)對黃(huáng)綠光(guāng)的高感度來(lái)檢查(chá)10um以(yǐ)下(xià)的(dí)刮痕或灰塵(chén)。
主(zhǔ)機(jī)和光綫部(bù)分為(wéi)分(fēn)離是可任(rèn)意調整照(zhào)射(shè)角(jiǎo)度(dù)。
採(cǎi)用電子點(diǎn)燈(dēng)方式，強(qiáng)度(dù)可任(rèn)意(yì)調(tiáo)整(zhěng)
檢查(chá)精(jīng)密(mì)加(jiā)工(gōng)表麵的瑕(xiá)疵，汙點(diǎn)，異(yì)物等
快速(sù)無損檢測小(xiǎo)至(zhì)10微米(mǐ)的(dí)瑕疵(cī)，小顆粒(lì)
有(yǒu)效地(dì)探測(cè)出生產過程(chéng)是(shì)早期的(dí)汙物，節省生(shēng)產(chǎn)時間(jiān)及不必要(yào)的成本
黃色(sè)濾色(sè)片濾(lǜ)掉波長小(xiǎo)於(yú)500nm的(dí)光綫(xiàn)，防止(zhǐ)產生熒光(guāng)幹擾
高對比度的光(guāng)綫能(néng)清晰(xī)檢測到精(jīng)細(xì)的(dí)表麵(miàn)粒子
燈(dēng)頭人體工學設計，易於(yú)操作

上一(yī)篇(piān)：紫外綫燈用於檢查(chá)電路板三(sān)防漆
下一篇：晶(jīng)圓片(piàn)表(biǎo)麵檢測(cè)燈