歡(huān)迎(yíng)來(lái)到(dào)深圳(zhèn)市(shì)京(jīng)都玉(yù)崎電子(zǐ)有(yǒu)限公司！
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產(chǎn)品(pǐn)展(zhǎn)示/ Product display
可檢測各(gè)種缺(quē)陷如(rú)半(bàn)導(dǎo)體晶片芯(xīn)片和液(yè)晶(jīng)基板(bǎn)的劃(huá)痕(hén)，不均匀(yún)拋光，霧度，表(biǎo)麵灰塵(chén)，滑移等(děng)可(kě)照(zhào)明樣品(pǐn)表(biǎo)麵範圍(wéi)為(wéi)400,000Lux以上 是(shì)一種(zhǒng)用於(yú)宏觀(guān)觀察(chá)的照明裝(zhuāng)置(zhì) 高亮度鹵素(sù)射鏡(jìng) YP-250ID YAMADA山(shān)田光學(xué)高亮度電(diàn)子(zǐ)鏡(jìng)200V
2025-11-05
經(jīng)銷商(shāng)
909
可檢測各種缺陷(xiàn)如半導體(tǐ)晶片芯(xīn)片和(hé)液晶(jīng)基板的(dí)劃痕，不(bù)均匀(yún)拋(pāo)光(guāng)，霧(wù)度，表麵灰塵，滑移等(děng)可(kě)照明(míng)樣(yàng)品表麵範圍為400,000Lux以(yǐ)上 是一種用於宏觀觀察(chá)的照(zhào)明(míng)裝置 高(gāo)亮(liàng)度(dù)鹵素(sù)射鏡 YAMADA山田(tián)光(guāng)學YP-150ID鹵(lǔ)素(sù)強(qiáng)光(guāng)燈YP-250ID
2025-11-05
經銷(xiāo)商
901
可(kě)檢測各(gè)種缺陷如半導體晶(jīng)片芯(xīn)片和液晶基板的(dí)劃痕，不(bù)均(jūn)匀拋光，霧(wù)度(dù)，表麵灰(huī)塵，滑(huá)移等可(kě)照明(míng)樣品(pǐn)表麵範圍為(wéi)400,000Lux以(yǐ)上(shàng) 是(shì)一(yī)種用於宏觀觀察的(dí)照明(míng)裝(zhuāng)置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山(shān)田光學(xué) 鹵(lǔ)素 光源 高亮(liàng)度(dù) 強光(guāng)燈(dēng)
2025-10-31
經銷(xiāo)商
2137
可(kě)檢測各種缺陷如(rú)半(bàn)導體晶片芯片(piàn)和液晶基(jī)板(bǎn)的(dí)劃痕(hén)，不(bù)均匀(yún)拋光(guāng)，霧(wù)度，表麵(miàn)灰(huī)塵(chén)，滑移等可照明樣品(pǐn)表(biǎo)麵範圍(wéi)為400,000Lux以上 是一種(zhǒng)用(yòng)於宏觀觀察(chá)的照明裝置 高亮度(dù)鹵(lǔ)素(sù)射鏡 YAMADA山(shān)田光學 晶圓 瑕(xiá)疵(cī) 目(mù)視(shì) 檢(jiǎn)查 燈
2025-10-31
經銷(xiāo)商(shāng)
1256
可檢(jiǎn)測各種(zhǒng)缺(quē)陷如(rú)半導體(tǐ)晶片(piàn)芯(xīn)片和液晶基板的劃(huá)痕(hén)，不(bù)均匀拋(pāo)光，霧度，表麵灰(huī)塵(chén)，滑(huá)移等可(kě)照明(míng)樣品表麵(miàn)範(fàn)圍為(wéi)400,000Lux以(yǐ)上(shàng) 是一(yī)種用於宏觀(guān)觀(guān)察(chá)的(dí)照明(míng)裝(zhuāng)置 高(gāo)亮(liàng)度鹵素(sù)射(shè)鏡 YAMADA山(shān)田光(guāng)學(xué) 芯片(piàn) 液(yè)晶(jīng) 高 亮度 強光(guāng)燈
2025-10-31
經(jīng)銷商
1189
可檢測各種缺陷如半(bàn)導(dǎo)體晶片(piàn)芯片和液(yè)晶(jīng)基(jī)板(bǎn)的劃痕，不(bù)均(jūn)匀(yún)拋光(guāng)，霧度，表(biǎo)麵灰塵(chén)，滑(huá)移等(děng)可照明(míng)樣品表麵範(fàn)圍(wéi)為400,000Lux以上(shàng) 是一(yī)種用於宏(hóng)觀觀(guān)察(chá)的照明裝(zhuāng)置 高亮(liàng)度(dù)鹵(lǔ)素射鏡 YAMADA山(shān)田(tián)光(guāng)學 芯片 液晶 高(gāo)亮度 鹵素(sù)燈(dēng)
2025-10-31
經銷商(shāng)
1614
可(kě)檢(jiǎn)測(cè)各(gè)種缺(quē)陷如(rú)半導體晶(jīng)片芯(xīn)片(piàn)和液(yè)晶(jīng)基(jī)板(bǎn)的劃痕，不(bù)均(jūn)匀拋光，霧度，表(biǎo)麵灰塵，滑移(yí)等可照明(míng)樣品(pǐn)表(biǎo)麵(miàn)範(fàn)圍(wéi)為(wéi)400,000Lux以上 是一(yī)種用於(yú)宏(hóng)觀觀(guān)察(chá)的(dí)照明裝置 高亮度鹵素(sù)射(shè)鏡 YAMADA山田(tián)光(guāng)學(xué) 缺(quē)陷(xiàn)檢(jiǎn)查 晶圓 鹵(lǔ)素(sù)光(guāng)源
2025-10-31
經(jīng)銷商
1870
可檢測(cè)各種缺陷如(rú)半(bàn)導(dǎo)體晶片芯片(piàn)和液晶(jīng)基板的劃痕，不均匀(yún)拋(pāo)光(guāng)，霧(wù)度，表麵(miàn)灰塵(chén)，滑(huá)移(yí)等(děng)可(kě)照(zhào)明樣(yàng)品(pǐn)表麵(miàn)範(fàn)圍為400,000Lux以(yǐ)上(shàng) 是一(yī)種用於宏觀(guān)觀察的(dí)照明裝(zhuāng)置(zhì) 高亮(liàng)度(dù)鹵素(sù)射(shè)鏡 YAMADA山(shān)田光(guāng)學(xué) 宏觀觀察 晶(jīng)圓(yuán) 鹵(lǔ)素光(guāng)源
2025-10-31
經(jīng)銷商(shāng)
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