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產品分類
Cassification
產品(pǐn)展示/ Product display
可檢測各種缺陷如半(bàn)導體晶(jīng)片(piàn)芯片(piàn)和(hé)液晶基(jī)板(bǎn)的劃(huá)痕(hén)，不均匀拋(pāo)光(guāng)，霧(wù)度(dù)，表(biǎo)麵灰塵(chén)，滑移(yí)等可照明(míng)樣品表麵(miàn)範圍(wéi)為400,000Lux以(yǐ)上 是一(yī)種用於宏(hóng)觀觀察的(dí)照(zhào)明(míng)裝置 高亮度鹵素(sù)射(shè)鏡 光(guāng)學(xué)板(bǎn)光(guāng)源YAMADA粒(lì)子光源(yuán)YP-250ID裝置現(xiàn)貨(huò)
2025-11-05
經(jīng)銷(xiāo)商
1071
可檢測各種缺陷(xiàn)如半導體(tǐ)晶片芯(xīn)片和液(yè)晶基板(bǎn)的劃痕，不均(jūn)匀拋(pāo)光(guāng)，霧度(dù)，表(biǎo)麵灰塵，滑移(yí)等(děng)可(kě)照明(míng)樣品表麵範圍為(wéi)400,000Lux以(yǐ)上 是一種用(yòng)於宏(hóng)觀觀(guān)察的照明裝置(zhì) 高(gāo)亮度鹵(lǔ)素射鏡 YP-150I/YP-250ID雙(shuāng)光源裝置YAMADA山田
2025-11-05
經(jīng)銷(xiāo)商
1062
可(kě)檢(jiǎn)測各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯(xīn)片和(hé)液晶基板的(dí)劃(huá)痕，不均匀(yún)拋(pāo)光，霧度(dù)，表麵灰塵(chén)，滑移(yí)等可(kě)照(zhào)明樣品(pǐn)表麵(miàn)範圍(wéi)為400,000Lux以上 是一種用於(yú)宏觀(guān)觀察的照明(míng)裝置 高亮(liàng)度鹵(lǔ)素射鏡(jìng) YAMADA高亮度熒(yíng)光光源YP-150ID · YP-250ID
2025-11-05
經銷(xiāo)商(shāng)
926
可(kě)檢(jiǎn)測各(gè)種缺陷如半(bàn)導(dǎo)體晶片芯片(piàn)和(hé)液(yè)晶基板(bǎn)的(dí)劃(huá)痕，不均(jūn)匀拋(pāo)光，霧(wù)度，表(biǎo)麵灰塵，滑移等(děng)可照明樣品(pǐn)表(biǎo)麵範圍為400,000Lux以上 是(shì)一(yī)種(zhǒng)用於宏觀觀(guān)察的照(zhào)明裝(zhuāng)置 高亮度鹵素(sù)射鏡 YAMADA山(shān)田(tián)高亮度(dù)鐵(tiě)光源(yuán)裝置YP-150ID現(xiàn)貨(huò)
2025-11-05
經銷(xiāo)商
888
可(kě)檢測(cè)各(gè)種缺陷(xiàn)如半導(dǎo)體(tǐ)晶片芯(xīn)片和液晶基板(bǎn)的劃痕(hén)，不均(jūn)匀拋光(guāng)，霧度(dù)，表麵灰塵，滑(huá)移等可照明樣品表(biǎo)麵範(fàn)圍為400,000Lux以上(shàng) 是(shì)一種用於(yú)宏(hóng)觀觀察的照(zhào)明裝置(zhì) 高亮度(dù)鹵(lǔ)素射鏡 YAMADA山田高亮(liàng)度鐵光(guāng)源(yuán)裝置YP-150ID現貨
2025-11-05
經銷商(shāng)
1061
可(kě)檢(jiǎn)測各(gè)種(zhǒng)缺(quē)陷如半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)晶(jīng)片(piàn)芯片和液晶基板的(dí)劃痕，不(bù)均(jūn)匀(yún)拋(pāo)光(guāng)，霧度(dù)，表(biǎo)麵灰(huī)塵(chén)，滑移(yí)等(děng)可(kě)照明樣(yàng)品(pǐn)表(biǎo)麵(miàn)範(fàn)圍(wéi)為400,000Lux以上(shàng) 是(shì)一種(zhǒng)用(yòng)於宏觀觀(guān)察的照明(míng)裝置 高亮度(dù)鹵素射鏡 YP-150ID/YP-250ID現(xiàn)貨(huò)YAMADA山田(tián)粒子光源
2025-11-05
經銷商
955
可檢測各種(zhǒng)缺陷如半導體(tǐ)晶片芯片(piàn)和液晶基(jī)板的劃痕，不(bù)均匀拋光，霧度，表麵灰(huī)塵(chén)，滑移(yí)等(děng)可照(zhào)明(míng)樣(yàng)品(pǐn)表麵(miàn)範圍為400,000Lux以(yǐ)上(shàng) 是(shì)一種用於宏觀觀察(chá)的照(zhào)明裝(zhuāng)置 高亮度(dù)鹵素射(shè)鏡 YP-250ID高亮度YAMADA山(shān)田粒(lì)子光源裝(zhuāng)置現(xiàn)貨
2025-11-05
經銷商
1032
可檢測(cè)各(gè)種缺陷如半導(dǎo)體晶(jīng)片(piàn)芯(xīn)片和液(yè)晶(jīng)基板(bǎn)的(dí)劃(huá)痕，不均匀拋光，霧(wù)度，表(biǎo)麵灰(huī)塵，滑(huá)移等可照(zhào)明(míng)樣品表麵範(fàn)圍(wéi)為(wéi)400,000Lux以(yǐ)上 是一種用於(yú)宏觀(guān)觀(guān)察(chá)的照(zhào)明(míng)裝(zhuāng)置 高(gāo)亮(liàng)度(dù)鹵素射鏡 YP-150ID YAMADA山田光學高(gāo)亮(liàng)度電子(zǐ)鏡200V
2025-11-05
經銷商
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