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可檢測各種缺(quē)陷如半導體晶(jīng)片(piàn)芯片和液晶基板的(dí)劃(huá)痕，不均匀(yún)拋光，霧度(dù)，表麵灰塵，滑移(yí)等(děng)可(kě)照(zhào)明樣(yàng)品表(biǎo)麵範圍為(wéi)400,000Lux以上(shàng) 是(shì)一(yī)種(zhǒng)用於宏觀觀察的(dí)照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田(tián)光(guāng) 小(xiǎo)王(wáng)子 晶(jīng)圓(yuán) 鹵(lǔ)素光源 裝置
2025-10-30
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986
可(kě)檢測(cè)各(gè)種缺(quē)陷(xiàn)如半導體晶片芯(xīn)片(piàn)和(hé)液(yè)晶基板的劃痕，不均匀(yún)拋(pāo)光(guāng)，霧(wù)度(dù)，表麵(miàn)灰塵，滑移(yí)等可(kě)照明(míng)樣品表(biǎo)麵(miàn)範(fàn)圍(wéi)為400,000Lux以(yǐ)上(shàng)$n是一(yī)種用於宏觀觀察的(dí)照(zhào)明(míng)裝置(zhì)$n高亮度鹵素射鏡(jìng) $nYAMADA山田光學(xué) 聚光(guāng)燈(dēng)鹵素 光源 強(qiáng)光燈
2025-10-30
經銷(xiāo)商
1331
可檢測各(gè)種缺(quē)陷(xiàn)如(rú)半導體(tǐ)晶片(piàn)芯(xīn)片(piàn)和(hé)液晶基(jī)板的(dí)劃痕(hén)，不均匀(yún)拋(pāo)光，霧(wù)度(dù)，表麵灰(huī)塵，滑移(yí)等可照明(míng)樣品表麵範圍(wéi)為400,000Lux以上 是一(yī)種用於(yú)宏觀觀察的照(zhào)明(míng)裝置 高亮(liàng)度鹵(lǔ)素射鏡 YAMADA山(shān)田(tián)光(guāng)學(xué) 聚(jù)光(guāng)燈(dēng) 晶(jīng)圓(yuán) 鹵素 光源裝(zhuāng)置(zhì)
2025-10-30
經(jīng)銷商(shāng)
3338
可檢測各種缺陷(xiàn)如(rú)半(bàn)導(dǎo)體晶片(piàn)芯(xīn)片和(hé)液(yè)晶(jīng)基板的劃痕，不(bù)均匀拋光，霧(wù)度，表麵(miàn)灰塵(chén)，滑移等(děng)可(kě)照明(míng)樣品表麵(miàn)範圍為(wéi)400,000Lux以上(shàng) 是一種用(yòng)於(yú)宏觀觀察的照明(míng)裝(zhuāng)置 高(gāo)亮(liàng)度鹵素射鏡 YAMADA山田光(guāng)學(xué) 聚光(guāng)式(shì) 晶圓 目視 檢查 燈
2025-10-30
經(jīng)銷商
1876
可(kě)檢測各(gè)種(zhǒng)缺陷(xiàn)如半導(dǎo)體晶片(piàn)芯片和液(yè)晶基板的(dí)劃痕，不均匀(yún)拋光，霧(wù)度，表(biǎo)麵(miàn)灰(huī)塵(chén)，滑移等可(kě)照(zhào)明(míng)樣品(pǐn)表麵範圍為400,000Lux以(yǐ)上 是(shì)一(yī)種用於宏觀觀(guān)察(chá)的(dí)照明(míng)裝置(zhì) 高亮(liàng)度(dù)鹵(lǔ)素射鏡(jìng) YAMADA山(shān)田(tián)光學 小王(wáng)子(zǐ) 聚(jù)光燈(dēng) 檢查燈(dēng)
2025-10-30
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